ASTM F774-82
分析双极型集成电路闩锁易感性指南
Guidelines for Analyzing Bipolar Integrated Circuits for Latch-up Susceptibility
- 标准号
- ASTM F774-82 中文首页
- 发布
- 1982年
- 总页数
- 7页
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM F774-82
-
标准名称：分析双极型集成电路闩锁易感性指南
适用范围：本指南适用于在器件中可以建立为占主导地位失效机制的p-n-p-n闩锁模式的双极型集成电路。范围限制于那些可以通过分析内部电路组件来识别和判断闩锁路径的隔离区域的双极性结隔离（JI）和电介质隔离（DI）集成器件。
本指南不涉及可能提供主要响应的子件闩锁，例如互补金属氧化物半导体（CMOS）设备。该指南还关注电路对离子辐射、电气过载或高温等影响下的闩锁易感性分析方法。
小结：本标准为双极型集成电路的闩锁分析提供了一种方法，包括获取制造工艺信息以及识别和确定隔离区域内的闩锁路径。该指南适用于所有双极型集成器件，并基于供应商制造设备的设计信息来确定可能产生闩锁的四个层路径。