术语 | 描述 |
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装置UnderTest (DUT) Device Under Test | 正在测试的设备。 |
塞贝克电动势 Seebeck EMF | 由塞贝克效应在两个不同金属导体两端产生的电动势,当两端温度不同时会产生电压。 |
电阻温系数 Temperature Coefficient of Resistance | 材料的电阻随温度变化率,表示为 dR/dθ,单位为倒数温度,在小范围内通常呈现线性关系。 |
电子直线加速器 | 用于生成高能电子脉冲以进行辐射剂量测试的设备。 |
Flash X-ray 机器 | 产生高密度X射线脉冲的设备,通常用于电子束模式或通过转换器生成溴化辐射环境。 |
低噪声放大器 (LNA) gain of 1000 to 10,000 | 用于测量和放大热电偶或热敏电阻产生的微小信号,具有高增益和低噪声特性。 |
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