SJ/T 11212-1999
石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
Measurement of quartz crystal unit parameters Part 6 Measurement of drive level dependence (DLD)
SJT11212-1999, SJ11212-1999
- 标准号
- SJ/T 11212-1999
- 别名
- SJT11212-1999, SJ11212-1999
- 发布
- 1999年
- 总页数
- 16页
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 当前最新
- SJ/T 11212-1999
- 适用范围
- 本标准适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本标准规定两种试验方法。方法A，以SJ/Z 9154．1-1987的π型网络为基础，适用于该标准所覆盖的整个频率范围。方法B，是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。
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