是一款300mm全晶圆聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM),旨在解决半导体行业中的TEM样品制备挑战。Helios 5 EXL DualBeam能够为当今最先进的工艺节点制备样品
赛默飞最深入的材料分析透射电镜Talos F200X TEM高质量、高分辨率的 (S)TEM 成像和精确的 EDS可提供高分辨率、高亮度(冷)场发射枪可提供具有极佳清洁度的柱内 Super-X G2 EDSTalos F200X G2 TEM适用于高分辨率 TEM...
Thermo Scientific Falcon 4i 直接电子探测器是专为冷冻电镜设计的相机,适用于单颗粒分析和冷冻断层扫描。其核心优势包括高探测量子效率(DQE)、14μm大像素带来的高信噪比,以及320fps高速电子事件表示(EER)技术...
一款具备优异性能的多功能型成像及分析的扫描电镜,唯一一款在 10 mm 分析工作距离具备 1 纳米分辨率的 SEM。
完全集成的 Iliad 300 扫描透射电子显微镜配备了新型 Iliad EELS 能损谱仪和能量过滤器、NanoPulser (我们新的静电阀门)、可选择的 Dual-X 或 Super-X EDX
将新型创新的多种离子 PFIB 镜筒与单色 Thermo Scientific Elstar SEM 镜筒相结合,可提供较先进的聚焦离子和电子束性能。
Thermo ScientificTM IliadTM (扫描)透射电镜实现了在电子显微镜领域的革命性突破,是一款完全集成的球差校正分析型(扫描)透射电镜,其配备了全新的电子能量损失谱仪 (EELS) 和能量过滤器,专用的 Zebra 电子能...
Helios DualBeam 系列第五代产品的一部分。结合了创新的 Elstar? 电子镜筒与卓越的 Thermo Scientific? Tomahawk HT 聚焦离子束 (FIB) 镜筒
一种适用于所有材料科学应用的最高分辨率像差校正扫描透射电子显微镜。
生物学相关分辨率下的结构信息, 空间利用率高且经济划算
用于对电子束敏感材料进行成像和光谱分析的扫描透射电子显微镜。
一款适用于所有材料科学应用的高通量、像差校正(扫描)透射电子显微镜
是该系列产品中设计最紧凑的。通过对机械底座框架和设备外壳的全新设计,该款设备净身高缩短至3 m以内,适用于任何天花板高度在3.04 m(10 ft)以上的实验室,由此可省去昂贵的实验室改造费用。
用于高通量、高分辨率化学表征和动态观察的 TEM 和 STEM 分析。
用于高生产率、高分辨率 TEM 和 STEM 表征,并具有化学定量功能。
Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam(冷冻聚焦离子束显微镜,Cryo-FIB)是一款专用的冷冻双束显微镜系统,可为高端冷冻透射电子显微镜断层扫描分析提供最佳的样品制备流程。
是新一代全自动计量解决方案,可提高生产率和数据质量,适用于大批量 TEM 计量。Metrios 6 (S)TEM 具有全新设计的硬件和基于机器学习的功能,与上一代解决方案相比,生产率平均提高了 20%
用于半导体计量和工艺表征的高生产率透射电子显微镜。
基于电子束的创新解决方案,用于在高级逻辑设备中精确定位缺陷。与光学方法相比分辨率提高了 10倍,确保了对最先进的半导体器件进行快速、准确和可靠的缺陷分析。
适用于对样品进行大体积连续切片以及多能量反卷积三维重构的SEM扫描电镜
是带有 FEG 源的台式 SEM,可让每个人都能获得清晰、高亮度的图像,以及 FEG 源的优点。由于其直观、紧凑的设计,从初始安装到实际使用都非常方便。