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安捷伦科技（中国）有限公司
| 产地类别：国产 | 供应商性质：生产商 | 价格范围：10万-30万 |
| 重复性：1% | 准确性：1% |
NanolinkSZ901系列是真理光学在S900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度分析系统，采用动态光散射(DLS)技术进行纳米粒度测量，被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析。
NanolinkSZ901纳米粒度分析仪的杰出性能和主要特点包括：
◆经典90°动态光散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm–15μm
◆加持自动恒温技术的最高功率可达50mW,波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用
◆独创的余弦拟合法（CFLS）优于目前的频谱分析法（FFT）和位相分析法（PALS）
◆独创的激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术
◆独创的信号光与参考光的光纤合束及干涉技术
◆集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器
◆常规温度控制范围可达-10°C~120°C,精度±0.1°C
◆新一代高速数字相关器，动态范围大于10??
◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术
注：* 取决于样品及样品池选件
| 测量原理 | 动态光散射（DLS）、静态光散射（SLS）、电泳光散射（ELS） |
| 粒径测量角度 | 90°,173°（高浓度），12°（Zeta电位）， |
| 粒径测量范围 | 0.3nm -15um* |
| 粒径测量最小样品量 | 3ul* |
| 粒径测量最小样品浓度 | 0.1mg/ml |
| 粒径测量最大样品浓度 | 40%/wv |
| Zeta电位技术 | 余弦拟合位相分析法（CF-PALS） |
| 适用Zeta电位测量的粒径 | 任意范围，无明确限制 |
| 迁移率范围 | 1nm - 120μm* |
| 最大电导率 | 270mS/cm |
| 电导率准确度 | ±10% |
| 电极 | 插入式平板电极、U型毛细管电极 |
| 检测点位置 | 距入射点0~5mm可调 |
| 检测点定位精度 | 0.01mm |
| 分子量范围 | 340Da - 2x107Da |
| 温度控制范围 | -10°C - 120°C |
| 温度控制精度 | ±0.1°C |
| 光源 | 集成恒温系统及光纤耦合的最大功率50mW, 波长638nm固体激光器 |
| 相关器 | 高速数字相关器，自适应通道配置 |
| 检测器 | 高灵敏度APD |
| 样品池 | 12mm比色皿、3μL毛细管超微量样品池、40μL微量样品池（多种可选） |
| 系统重量 | 16kg |
| 外形尺寸 | 365mm x 475mm x 180mm (LxWxH) |
Nanolink SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪由珠海真理光学仪器有限公司 为您提供，如您想了解更多关于Nanolink SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途。
