2018年美国Microtrac公司隆重推出一款世界领先的静态激光衍射技术与动态图像分析技术集于一体的激光粒度粒形分析仪Sync， 可以为用户提供比以往更多的颗粒粒子的信息。Sync可在同一仪器，同一样品，一次进样，同一样品池，一次测量，同时得到粒径粒形结果。

作为激光散射技术研究的先行者，经过近半个世纪的不断探索，开发出一代又一代先进的激光粒度分析仪。全新的S3500系列激光粒度分析仪以革新的技术，拓展测试下限至0.01μm。它采用现代模块式设计，内置高能量，高稳定性，超长寿命的固体二级管激光器。对非球形颗粒的米氏理论修正，保证每一次样品分析的测量精度。

麦奇克STABINO ZETA电位分析仪采用流动电位法，实现0.3nm-300μm全粒径覆盖的快速电位滴定（5-15分钟/次），适用于悬浮液、乳液及大分子溶液（0.01-40 vol.%浓度）。其独特活塞驱动技术直接测量剪切面电位（±3000mV范...

2018年美国Microtrac公司隆重推出一款世界领先的静态激光衍射技术与动态图像分析技术集于一体的激光粒度粒形分析仪Sync， 可以为用户提供比以往更多的颗粒粒子的信息。Sync可在同一仪器，同一样品，一次进样，同一样品池，一次测量，同时得到粒径粒形结果。

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通过使用STABINO，可实现快速便捷的颗粒的电位滴定测试。 分散体中，同性带电离子的静电排斥作用是分散体避免凝聚保持稳定的主要原因，故带电粒子界面的表征是必不可少的。当颗粒离子化后，总电荷和电荷密度是需要知道的重要参数。电荷测量是通过建立动电信号来完成的。 根据不同的测量原理，有电泳法，电声法Zeta电位，以及STABINO测试所得的流动电位。这些是最经常被提到的电位参数，来源于作用在颗粒界面双电层上离子云的剪切力，如图1。所有这些被测变量都与位于剪切面的颗粒界面电位（PIP）即zeta电位成正比关系。为了建立界面电位，要么通过电泳法或电声法建立的电场，要么通过机械应力作用于流动电位和电声法仪器。通过这样做，来源于溶液中的外部松散附着的离子被带走，显露出可被直接测量的界面电位。

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激光粒度粒形分析仪 S3500SI提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输出/输入，个性化输出报告及各种文字处理功能，数据的完整性符合21 CFR PART11安全要求

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NANOTRAC WAVE II采用先进的“Y”型光纤探针光路设计，配置膜电极产生微电场，操作简单，测量迅速，无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层，无需外加大功率电场，无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池，完全消除由于空间位阻（不同光学元器件间的传输损失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差异，分散介质的影响，颗粒间多重散射等）带来的光学信号的损失，结果准确可靠，重现性好。

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纳米粒度测量——最新动态光背散射技术