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当前位置: 徕卡 应用文献 LAS X 2D 分析软件:可针对您的特定需求调整样本分

LAS X 2D 分析软件:可针对您的特定需求调整样本分

2024-03-13
  • 电子/电器/半导体
  • LAS X 2D 分析软件:可针对您的特定需求调整样本分
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摘要

LAS X 2D 分析模块经过特别开发,旨在将高精度样品特征和面积测量同
高度灵活性相结合,因此可以根据你的特定需求定制自动化分析。易于学习的快速工作流程可以指导你分析各个分析步骤。可以根据几何和形态特性以及强度或颜色等物理特性分析各种样品及其特征,例如颗粒、粉末、纤维、空隙、孔隙率等。

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