JEOL：推出新型电子探针显微分析仪JXA-iHP200F和JXA-iSP100
东京--(BUSINESS WIRE)--(美国商业资讯)--日本电子株式会社(JEOL Ltd., TOKYO:6951)（总裁兼首席运营官：Izumi Oi）宣布于2019年11月推出新型肖特基式(Schottky)场发射电子探针显微分析仪JXA-iHP200F和新型钨/ LaB6电子探针显微分析仪JXA-iSP100。
产品开发背景
在钢、汽车、电子零件和电池材料等广泛工业领域中，电子探针显微分析仪(EPMA)用作研发和质量控制工具。此外，在学术领域，EPMA应用于地球与行星科学和材料科学，不仅涵盖矿物能源研究，而且涉及新型材料研究，从而为各种尖端研究做出贡献。随着EPMA应用的增加，EPMA用户需要具有高可操作性的简单快速的分析，同时也要在特定感兴趣区域保持高质量的痕量元素分析性能。
为满足这些需求，从观察（光学和SEM图像）到分析，JXA-iHP200F和JXA-iSP100均支持与波长色散X射线光谱仪(WDS)、能量色散X射线光谱仪(EDS)、阴极发光(CL)及其他技术的无缝集成。
主要特性
集成EPMA可实现简单快速的操作
高通量
任何人都能以高精度执行从试样送入到分析区域确定的无缝操作。高准确度分析
集成式EPMA系统让任何人都能够以更高的准确度和精确度以及更快的功能，更快、更轻松地获取分析数据。易于维护
由于仅在需要时才自动执行维护，因此每个人都可以将EPMA系统维持在最佳状态。
JXA-iHP200F和JXA-iSP100均具有高度可扩展性。其不仅可用于WDS和EDS系统，而且可结合软X射线发射分光仪(SXES)进行化学状态分析，结合电子背散射衍射系统(EBSD)进行晶体取向分析，以及整合阴极发光检测器(CL)用于广泛应用中的多样化分析。
备注：EPMA是“电子探针显微分析仪”(Electron Probe Microanalyzer)的缩写。
年度单位销售目标
70套/年
日本电子株式会社
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan
Izumi Oi，总裁兼首席运营官
（股票代码：6951，东京证券交易所第一部）
www.jeol.com
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科学与测量仪器销售部
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